한국어
 |
EC 제트 테스트 기술 탑재
CMOS + 리플레이 스위치 카드 설계
진정한 광대역 테스트 기술
인간화 된 win7 인터페이스, 간단한 조작 및 사용하기 쉬운
강력한 보드 뷰
5개 와이어 테스트 기술, 최대 4개의 단자 구성요소 테스트 가능
ATPD 자동 테스트 프로그램 디버깅
통계 분석 보고서를 개선하고 생산 품질을 효과적으로 모니터링합니다.
| 모델 | I.C.T-Q518D |
| PCB 크기 | 500mm x 380mm(표준) |
| 테스트 포인트 | 256포인트 표준(1024포인트는 선택사항) |
| 카드 전환 | 128/냄비 |
| 고립된 점 | 10/카트 |
| 테스트 속도 | 0.5초/1024포인트(오픈/쇼트) 2ms ~ 40ms/step(구성요소) |
| 테스트 범위 | 저항 0.1 Ω ~ 40M Ω 정확도는 0.05 Ω ~ 100M Ω (2선) ± 1% ~ 5% (4선) 0.05 Ω입니다. 용량 1pf ~ 40MF 정밀도 ± 2%-5%. 인덕턴스 1uh ~ 50h, 정확도 2% - 5%. 다이오드 0.1 ~ 6V 정확도 ± 1%-3%. 안정화된 전압 다이오드 0.1 ~ 15V 정밀도 ± 1%-3%. 트랜지스터 β 값의 세 단자에서 VCE 포화 전압을 측정합니다. 전계 효과 트랜지스터 VDS, CD, RD(켜짐)의 3단자 테스트. 전도 전압 또는 저항을 테스트하기 위한 4개의 단자가 있는 광 커플러 및 계전기입니다. |
| 전원공급장치 | 교류:100~240,50/60HZ,3Kw |
| 치수(mm) | 830*830*1600 |
| 무게 | 약:170kg |
* 데이터는 주변 온도 25℃, 습도 60%에서 얻은 것입니다.
* I.C.T는 품질과 성능을 위해 계속 노력하고 있으며, 사양과 외관은 특별한 공지 없이 업데이트될 수 있습니다.
EC 제트 테스트 기술 탑재
CMOS + 리플레이 스위치 카드 설계
진정한 광대역 테스트 기술
인간화 된 win7 인터페이스, 간단한 조작 및 사용하기 쉬운
강력한 보드 뷰
5개 와이어 테스트 기술, 최대 4개의 단자 구성요소 테스트 가능
ATPD 자동 테스트 프로그램 디버깅
통계 분석 보고서를 개선하고 생산 품질을 효과적으로 모니터링합니다.
| 모델 | I.C.T-Q518D |
| PCB 크기 | 500mm x 380mm(표준) |
| 테스트 포인트 | 256포인트 표준(1024포인트는 선택사항) |
| 카드 전환 | 128/냄비 |
| 고립된 점 | 10/카트 |
| 테스트 속도 | 0.5초/1024포인트(오픈/쇼트) 2ms ~ 40ms/step(구성요소) |
| 테스트 범위 | 저항 0.1 Ω ~ 40M Ω 정확도는 0.05 Ω ~ 100M Ω (2선) ± 1% ~ 5% (4선) 0.05 Ω입니다. 용량 1pf ~ 40MF 정밀도 ± 2%-5%. 인덕턴스 1uh ~ 50h, 정확도 2% - 5%. 다이오드 0.1 ~ 6V 정확도 ± 1%-3%. 안정화된 전압 다이오드 0.1 ~ 15V 정밀도 ± 1%-3%. 트랜지스터 β 값의 세 단자에서 VCE 포화 전압을 측정합니다. 전계 효과 트랜지스터 VDS, CD, RD(켜짐)의 3단자 테스트. 전도 전압 또는 저항을 테스트하기 위한 4개의 단자가 있는 광 커플러 및 계전기입니다. |
| 전원공급장치 | 교류:100~240,50/60HZ,3Kw |
| 치수(mm) | 830*830*1600 |
| 무게 | 약:170kg |
* 데이터는 주변 온도 25℃, 습도 60%에서 얻은 것입니다.
* I.C.T는 품질과 성능을 위해 계속 노력하고 있으며, 사양과 외관은 특별한 공지 없이 업데이트될 수 있습니다.
