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QFN/LGA 결함 분석

아래에 표시된 기사는 모두 QFN/LGA 결함 분석에 관한 기사입니다. 관련 기사를 통해 QFN/LGA 결함 분석에 관한 관련 정보, 사용 메모 또는 최신 동향을 얻을 수 있습니다. 우리는이 소식이 당신에게 필요한 도움을 줄 수 있기를 바랍니다. QFN/LGA 결함 분석 기사에서 귀하의 필요를 해결할 수 없다면 당사에 연락하여 관련 정보를 얻을 수 있습니다.
  • 숨겨진 솔더 조인트 결함은 신뢰성이 높은 전자 장치의 현장 오류를 일으키는 주요 원인입니다. 기존 AOI, ICT 및 수동 검사로는 보이드, 브리징, HiP 또는 습윤 불량을 감지할 수 없습니다. 2D, 2.5D, 3D CT를 포함한 고해상도 X선 검사만이 이러한 중요한 문제를 확실하게 식별할 수 있습니다. ICT의 X-7100, X-7900 및 X-9200 시스템은 서브미크론 해상도, 지능형 소프트웨어 및 글로벌 지원을 제공하여 자동차, 의료, 항공우주 및 5G 분야의 제조업체가 오류를 줄이고 신뢰성을 향상하며 신속한 ROI를 달성할 수 있도록 지원합니다.

    2025.11.21

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