PCB 레이아웃 외부의 테스트 포인트는 테스트 프로브에 의해 접촉되어 부품의 개방 회로, 단락 및 납땜을 감지합니다. 이는 개방 회로 테스트, 단락 회로 테스트, 저항 테스트, 커패시턴스 테스트로 나눌 수 있습니다. , 다이오드 테스트, 삼극관 테스트, FET 테스트, IC 핀 테스트 및 기타 누락 및 잘못된 설치, 매개변수 값 편차, 솔더 조인트 연속 용접 회로 기판 개방 단락 및 기타 오류 및 오류 상태 출력
EC 제트 테스트 기술 탑재
CMOS + 리플레이 스위치 카드 설계
진정한 광대역 테스트 기술
인간화 된 win7 인터페이스, 간단한 조작 및 사용하기 쉬운
강력한 보드 뷰
5개 와이어 테스트 기술, 최대 4개의 단자 구성요소 테스트 가능
ATPD 자동 테스트 프로그램 디버깅
통계 분석 보고서를 개선하고 생산 품질을 효과적으로 모니터링합니다.
| 모델 | I.C.T-Q588A |
| PCB 크기 | 500mm x 350mm(표준) |
| 테스트 포인트 | 256포인트 표준(1024포인트는 선택사항) |
| 카드 전환 | 128/냄비 |
| 고립된 점 | 각 테스트마다 10단계가 있으며 자동으로 격리하는 방법을 학습할 수 있습니다. |
| 테스트 속도 | 0.5초/1024포인트(오픈/쇼트) 2ms ~ 40ms/step(부품 테스트) |
| 테스트 범위 | 저항: 0.05 Ω~ 100M Ω(2선) ± 1% - 5%(4선) ± 10m Ω.용량 1pf ~ 40MF ± 2%-5%. 인덕턴스 1uH ~ 50H, ± 2% - 5%. 다이오드 0.1 ~ 9V ± 1%-3%. 제너 다이오드: 0.1 ~ 15V ± 1%-3%. 트랜지스터 : 트랜지스터 β 값의 세 단자에서 VCE 포화 전압을 측정합니다. FET : 전계 효과 트랜지스터 VDS, CD, RD(on)의 3단자 테스트. 광 커플러 및 회로 차단기: 전도 전압 또는 저항을 테스트하기 위한 4개의 단자. |
| 주요 옵션 기능 | 마이크로 저항기(4선식): 최소 50mΩ(4선식) ±10mΩ DRMode: 다이오드 또는 IC 순방향 병렬 누설 및 빈 용접을 측정할 수 있습니다. 키 기능: 키 테스트 중에는 프로그램이 일시 중지되고 키의 품질은 수동 조작으로 확인됩니다. 자동 스탬프: 테스트 통과 또는 실패 자동 스탬프 장비 모니터 배치: 모니터 배치 방향(PASS 또는 Fail shunt) 멀티프레스: 다중 또는 이중 프레스 시스템 통과율 모니터링: 통과율이 다음과 같은 경우 그래픽 기능: 보드 보기 및 보드 보기 자동 생성 멀티보드 기능: 패널 자동 확장 및 하위 패널 선택 및 자동 감지 |
| 전원공급장치 | 교류:220V,50/60HZ,3Kw |
| 치수(mm) | 1000*750*1600 필요에 따라 맞춤 설정할 수 있습니다. |
| 무게 | 대략:350kg |
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